Larghezza del profilo | a seconda della posizione e del numero di punti di misurazione |
campo di misurazione max. spessore | fino a 34 mm | fino a 78 mm |
Precisione spessore | ± 3 μm | ± 7 μm |
Capacità delle apparecchiature di misura (Cg&Cgk): [TW = 10 x precisione] | > 1,67 |
Sensore | triangolazione laser, cromatico-confocale, interferometrico |
Punti di misurazione | fino a 3 |
Frequenza di scansione | 1 kHz |
Classe laser | 2 (non occorre designare un responsabile della protezione laser) |
Risoluzione dello spessore del profilo | < 1 μm |
Risoluzione indicata | 1 μm / 0,01 per cromatico / interferometro |
Umidità atmosferica relativa | 15 - 95% (non condensante) |
Temperatura ambiente | da +10 a +50°C |
Tensione di esercizio | 120 V - 230 V; 50 Hz/60 Hz; 16 A |
Grado di protezione | IP 54 |